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深層学習による超高速計測分析システム開発

急速に進化しつつある多くの先端的計測・センシングのデバイス・装置では、複雑な出力情報の高度な情報処理を通じて目的とする計測結果を得ます。

しかし、必要な情報処理の複雑化に伴い、それに必要な計算処理時間がリアルタイム計測を妨げるレベルに達しつつあります。

そこで、このような情報処理を桁違いに高速化する手法やアルゴリズムの技術開発を行っています。その一環として、高画素な超解像蛍光顕微鏡のイメージング処理を数百倍高速化しました。